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帖子 ZEMAX軟件技術應用專題:如何為光學相干斷層掃描系統建模
我們從商用OCT系統中獲取目標規。 軸向分辨率完全來自光源特性,應在5μm的數量級上。 來自樣品處光束半徑的橫向分辨率應為15μm。800 nm範圍內的光將用於避免組織中的高吸收,這會限制穿透。光源規OCT將干涉測量技術與寬帶近紅外光結合使用。 較寬的帶寬可提供最佳分辨率,而波長選擇可確定樣品材料中的穿透深度。
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w**elab86_Swsp ??? 3年前
ZEMAX軟件技術應用專題:如何為光學相干斷層掃描系統建模
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六折 基于ANSYS Workbench 的軸流葉片分析-----流體和結構強度的耦合分析 https://www.yqgqt.org.cn/video/c13265 八折 ANSYS必修課_workbench基礎操作應用 https://www.yqgqt.org.cn/video/c14289
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技術鄰公告 ??? 2年前
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